Pure and N2 doped ZnO thin films of thickness ranging~300 – 500 nm with 5,10,15,20,25,and 50 sccm inflow ratios of N2 a......

光谱椭偏仪是常用的测量薄膜厚度及材料光学性质的仪器，其准确性主要由系统的校准过程确定。提出一种新的利用标准样品校准光谱椭偏......